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Datenerfassungskarte EtherCAT

Instrument Driver für LabVIEW

Produkt-Bild

NSCP-C100-RE50E-Image

NSCP-C100-RE\50E

Abgekündigt

Auf einen Blick

  • Erfassung aller Prozesswerte direkt vom Netzwerk
  • Kein Eingriff in SPS notwendig
  • Prozessdokumentation
  • Visualisierung
  • Diagnose

Weitere Informationen

Beschreibung

Es gibt viele Anwendungsbereiche, in denen eine Prozessdatenaufzeichnung erforderlich ist. Vor allem in der Maschinendiagnose und Prozessdokumentation stellt eine genaue Erfassung des Prozesswertverlaufs eine zentrale Aufgabe dar. National Instruments LabVIEW bietet dem Nutzer eine mächtige und umfassende Lösung für diese Aufgabenstellung. Mit der netSCOPE-Datenerfassungskarte können Prozessdaten einfach erfasst und in LabVIEW weiter verarbeitet werden.

Die Erfassung der Messwerte erfolgt dabei aus den übertragenen Prozessdaten-Telegrammen. Dadurch können auch bestehende Anlagen kostengünstig erweitert werden, da keine Anpassung des Steuerungsprogramms notwendig ist. Die Messwerterfassung mit einer netSCOPE-Karte ist dabei einfach und schnell zu realisieren. Die Karte wird als passiver Teilnehmer im Automatisierungsnetzwerk angeschlossen. Innerhalb eines LabVIEW Programms sind nur wenige Handgriffe notwendig um die Prozesswerte in LabVIEW-üblicher Darstellung zu erhalten.

Grundsätzlich werden immer alle transportierten Daten vom Netzwerk erfasst und mit einem exakten Zeitstempel versehen. Die Abtastung erfolgt kommunikationszyklusgenau. Damit steht jederzeit ein vollständiges und lückenloses Prozessabbild mit Historie zur Verfügung.

Technische Daten

ProduktProduktnameNSCP-C100-RE\50E
Artikelnummer7330.101
BeschreibungnetSCOPE Datenerfassungskarte PCI Express für Real-Time-Ethernet
FunktionDatenerfassungskarte für Real-Time-Ethernet
Kommunikations-ControllerTypnetX 500
Integrierter SpeicherRAM8 MB SDRAM
FLASH4 MB serielles Flash-EPROM
SpannungsversorgungVersorgungsspannung+3,3 V DC ±5 %
Maximale Stromaufnahme bei 3,3 V (typisch)800 mA
Anschlussüber PCI Expressbus
SystemschnittstelleBustypPCI Express, One-Lane-Port
DatenzugriffDPM
Größe des Dual-Port-Memorys64 KByte
Datenbreite32-Bit
Übertragungsrate2 GBit/s
KommunikationsschnittstelleKommunikationsstandardEthernet
Schnittstellentyp100BASE-TX, potentialfrei
Steckverbinder2 x RJ45-Buchse, passiver TAP, zusätzlicher externer TAP mit Zero-delay möglich
Isolationsspannung1000 V DC (getestet für 1 Minute)
ZeitverzögerungEthernet Verzögerung < µs
AnzeigenLED-AnzeigeSYS, Systemstatus-LED
STA0, LED Status 0 (Duo-LED)
STA1, LED Status 1 (Duo-LED)
LED gelb, Ethernet-Link-Status
LED grün, Ethernet RX/TX Status
Zulässige UmgebungsbedingungenBetriebstemperaturbereich0 °C ... +55 °C (Umluftgeschwindigkeit (Air flow) bei der Messung: 0,5 m/s)
Lagertemperaturbereich0 °C ... +70 °C
Luftfeuchte10 % … 95 % rel. Luftfeuchtigkeit, keine Betauung zulässig
GerätAbmessung (L x B x T)120,0 x 86 x 18,5 mm (ab Hardware-Revision 4)
Montage/InstallationPCI Express-x1-Steckplatz (3,3 V)
KonformitätRoHSJa
Konformität zu EMV-RichtlinienCE-KennzeichnungJa
EmissionEN 55011:2009 + A1:2010, CISPR 11:2009, Klasse A (Funkstörungen - Grenzwerte und Messverfahren)
StörfestigkeitEN 61000-4-2:2009 (gegen die Entladung statischer Elektrizität)
EN 61000-4-3:2006 + A1:2008 + A2:2010 (gegen hochfrequente elektromagnetische Felder)
EN 61000-4-4:2004 + A1:2010 (gegen schnelle transiente elektrische Störgrößen)
EN 61000-4-5:2006 (Prüfung gegen Stoßspannungen)
EN 61000-4-6:2009 (gegen leitungsgeführte Störgrößen, induziert durch hochfrequente Felder)
EN 61000-4-8:2010 (gegen Magnetfelder mit energietechnischen Frequenzen)
EN 61000-6-2:2005 + B1:2011 (für Industriebereiche)

Bestellinformation

Produktname Artikelnummer Kurzbeschreibung
NSCP-C100-RE\50E7330.101Datenerfassungskarte EtherCAT

Mit netSCOPE für LabVIEW werden Ein- und Ausgangsprozessdaten der SPS direkt vom Automatisierungs-Netzwerk erfasst und in LabVIEW zur weitern Verarbeitung zur Verfügung gestellt. Durch diese zusätzlichen Messgrößen ergeben sich neue interessante Möglichkeiten für Zustandsüberwachung, automatisierten Test und Visualisierungssysteme.